Ram Stress Test v2.2.005 绿色最新版

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    • Ram Stress Test  v2.2.005 绿色最新版

    内存条检测简介

    Ram Stress Test是一款好用的维修级内存条检测工具。Ram Stress Test完全可以取代昂贵的内存检测卡,可以帮助用户检测内存条是否存在颗粒损坏和PCB板是否短路等常见故障问题,支持检测SD内存、DDR内存等。无论是电脑店还是个人使用可以说都是十分好用的了,推荐大家下载!

    使用方法

    下载后解压后,用UltraISO制作到U盘启动,不依赖任何操作系统,只要BIOS能识别的内存它都能检测;包内软件是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件

    1、点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮,点不亮的可以用一根好的内存去带动它(可解决部分点不亮问题)。必须SD的带SD的,DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根

    2、发现 ATS 选项错误,在BIOS中,记忆体选项设成Auto时,记忆体的CL=2,改成Manual,自设CL=2.5时,上述选项才能通过

    3、程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K),第二项是扩展内存地址,第三项是测试CPU的 L2 cache

    4、软件为光盘镜像文件,用刻录机做成成启动光盘(如需要软盘版的请留言说明),使用非常简易,电脑只要设定为软、光盘启动,插入制作好的盘即可自动运行。它是一个独立开发的系统,没有依附任何作业系统,相容于x86系列,只要BIOS认的到的容量都能测

    5、可以测试SD及DDR内存

    6、闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF

    依次代表内存条的8颗颗粒

    从左到右横着数:0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒


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